Scan : Dictionary / Wörterbuch (BEOLINGUS, TU Chemnitz)

31 results for Scan

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	German	Spanish
	In diesem Feld wird die native Scan-Auflösung des Aufnahmesystems angegeben. [EU]	Este campo especifica la resolución normal del barrido del sistema utilizado por el iniciador de la transacción.
	It is prohibited to scan a form E itself for logical or technical failures and to reply to a malformed E by another form E to prevent a cumulative process –; 'Snowball Effect'."; [EU]	It is prohibited to scan a form E itself for logical or technical failures and to reply to a malformed E by another form E to prevent a cumulative process –; "Snowball Effect".».
	Leiterplatte zur Abtaststeuerung ('Scan driver board') zum Erzeugen elektrischer Impulse zum Abtasten bestimmter Elektroden in einem Glasbildschirm, Halbleiterbauelemente enthaltend [EU]	Placas de controlador de escáner (scan driver boards) para la generación de impulsos eléctricos para escanear a determinados electrodos en un panel de vidrio, que incluya, como mínimo, chips semiconductores
	radiologischer Hinweis auf die Infektion (z. B. abnorme Befunde bei Ultraschall, Computertomographie, MRT, Radionuklid-Scan des Gehirns oder Arteriogramm) [EU]	signos radiográficos de infección (por ejemplo, resultados anómalos de las exploraciones por ecografía, TAC, RMN, gammagrafía o arteriografía)
	Scan driver boards zur Erzeugung elektrischer Impulse zum Scannen an bestimmte Elektroden in einem Glasbildschirm, mindestens mit Halbleiterchips zum Herstellen von Plasmabildschirmen. [EU]	Placas de controlador de escáner (scan driver boards) para la generación de impulsos eléctricos para escanear a determinados electrodos en un panel de vidrio, que incluya, como mínimo, chips semiconductores, para su utilización en la fabricación módulos de pantallas de plasma [1].
	Scan-Geschwindigkeit. [EU]	Velocidad de escaneado.
	«Step-and-repeat» (direct step on wafer)- oder «step-and-scan» (scanner)-Justier- und Belichtungsanlagen für die Waferfertigung, die lichtoptische oder röntgentechnische Verfahren verwenden, mit einer der folgenden Eigenschaften: [EU]	Equipos de alineación y exposición, por paso y repetición (paso directo en la oblea) o por paso y exploración (explorador), para el proceso de obleas utilizando métodos fotoópticos o de rayos X y que tengan cualquiera de las características siguientes:
	Step-and-repeat(direct step on wafer)- oder step-and-scan(scanner)-Justier- und Belichtungsanlagen für die Waferfertigung, die lichtoptische oder röntgentechnische Verfahren verwenden und eine der folgenden Eigenschaften haben: [EU]	Equipos de alineación y exposición, por paso y repetición (paso directo en la oblea) o por paso y exploración (explorador), para el proceso de obleas utilizando métodos fotoópticos o de rayos X y que tengan cualquiera de las características siguientes:
	«Stepp-and-repeat» (direct step on wafer)- oder «step-and-scan» (scanner)-Justier- und Belichtungsanlagen für die Waferfertigung, die lichtoptische oder röntgentechnische Verfahren verwenden, mit einer der folgenden Eigenschaften: [EU]	Equipos de alineación y exposición, por paso y repetición (paso directo en la oblea) o por paso y exploración (explorador), para el proceso de obleas utilizando métodos fotoópticos o de rayos X y que tengan cualquiera de las características siguientes:
	Struktur des Druck-/Kopier-/Scan-Auftrags [EU]	Estructura del trabajo
	Unterschiedliche Scan-Auflösungen würden auch unterschiedliche Pixelzählungen bedeuten: [EU]	Resoluciones de escaneado distintas producirían densidades de píxeles distintas.
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